Contrôle par Vision et Assemblage Microélectronique

Objectifs:

Fabrication d’un poste autonome d’assemblage et de contrôle de composants directement par Pick-and-Place depuis les wafers.

Résultats:

Détection et vérification de l’intégrité et de la présence des composants par vision des composants CMS à haute cadence. Tests en fréquence et assemblage en ligne des composants.

 
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